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X 射線熒光測(cè)試儀
【型 號(hào)】XDAL
【品 牌】德國(guó)菲希爾Fischer
【價(jià) 格】洽詢
【主要技術(shù)指標(biāo)】不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)
【詳細(xì)技術(shù)指標(biāo)】
X 射線熒光測(cè)試儀，非接觸涂層測(cè)厚儀，帶有可編程的 X/Y平臺(tái)和Z軸，高精度涂層測(cè)厚儀，可自動(dòng)測(cè)量鍍層厚度和分析材料組分
特點(diǎn)
- 配備了半導(dǎo)體探測(cè)器，涂層測(cè)厚儀選智昊，由于有更好的信噪比，進(jìn)口涂層測(cè)厚儀，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測(cè)量
- 使用微聚焦管可以測(cè)量較小的測(cè)量點(diǎn)，濰坊涂層測(cè)厚儀價(jià)格，但因?yàn)槠湫盘?hào)量較低，費(fèi)舍爾涂層測(cè)厚儀，不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)
- 底部C型開槽的大容量測(cè)量艙
- 有彈出功能的快速、可編程XY平臺(tái)
典型應(yīng)用領(lǐng)域
- 鍍層和合金的材料分析（還適用于薄鍍層和低含量成分）
- 來料檢驗(yàn)，指針涂層測(cè)厚儀，生產(chǎn)監(jiān)控
- 研究和開發(fā)
- 電子工業(yè)
- 接插件和觸點(diǎn)
- 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
- 可以測(cè)量數(shù)納米薄的鍍層，分體式涂層測(cè)厚儀，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
- 痕量元素分析
- 在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛（Pb）含量
- 硬質(zhì)鍍層分析
